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DRAM FT测试机

产品简介

对封装后的DDR芯片颗粒进行完整的实际应用条件下的功能测试和指标测试,保证出货产品的品质满足规格要求;测试机对芯片施加输入信号、采集输出信号,并判断芯片在不同工作条件下功能和性能的有效性。测试结果通过通信接口传送给分选机,分选机据此对被测试芯片进行标记、分选等。

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