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DRAM老化修复设备

产品简介

对封装后的芯片颗粒进行高低温与大电流环境下的老化测试,并在测试中对颗粒内部缺陷进行修复。该设备是存储芯片制造的必要核心设备之一,融合了高低温、老化冲击、功能测试等各项测试工艺,并对检测出的不良进行软件算法修复,可以高效简化常规的存储器晶圆至芯片封测段多道工艺流程,实现高吞吐容量的电学性与可靠性验证要求。

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