DRAM FT 测试机
功能介绍
对封装后的芯片颗粒进行实际应用条件下的功能指标测试，对芯片施加输入信号、采集输出信号，并判断芯片在不同工作条件下功能和性能的有效性，通过通信接 口将测试结果传送给分选机，分选机据此对被测试芯片进行标记、分选等。
产品介绍
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地址：深圳市龙华区龙华街道清宁路富安娜工业园D栋1楼
Email：jzd@seichitech.com
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